CTS-8072PR+雙通道高頻脈沖發(fā)生接收儀
CTS-8072PR+脈沖發(fā)生接收儀是應(yīng)用于高頻檢測研究的儀器,具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路,以及由高性能尖脈沖發(fā)生器及高壓電源組成的尖波發(fā)射電路;提供雙通道數(shù)據(jù)采集功能,并可實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)同步控制。
產(chǎn)品介紹
CTS-8072PR+脈沖發(fā)生接收儀是應(yīng)用于高頻檢測研究的儀器,具備低噪聲和寬頻帶的接收放大電路,以及由高性能尖脈沖發(fā)生器及高壓電源組成的尖波發(fā)射電路;提供雙通道數(shù)據(jù)采集功能,并可實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)同步控制。
應(yīng)用領(lǐng)域:
電子*:檢測集成電路芯片、印刷電路板的缺陷。超聲掃描顯微鏡SAM、高頻C掃等。
材料研究:評估微小材料的結(jié)構(gòu)完整性,如復(fù)合材料中的微小裂紋??蓱?yīng)用于測量材料的聲學(xué)特性,如聲速、衰減等,包括材料晶粒度的評估等。
精密機(jī)械:檢測精密零部件的表面和內(nèi)部缺陷。
探頭測試:可應(yīng)用于高頻超聲波探頭的聲學(xué)特性的評價(jià)以及性能指標(biāo)的測試。
聲學(xué)*:探究高頻超聲在不同介質(zhì)中的傳播特性。
應(yīng)用案例:
厚度測量
采用CTS-8072PR+高頻脈沖發(fā)射接收儀,配合我司研發(fā)的50MHz高頻探頭,可實(shí)現(xiàn)*薄0.08mm塞尺的厚度測量,測量結(jié)果準(zhǔn)確,波形清晰,波形僅1個周期。
高精度測量:可以對物體的尺寸、形狀和位置進(jìn)行測量。比如在工業(yè)無損檢測中,能夠準(zhǔn)確檢測出零部件的微小缺陷。
窄波束:波束較窄,有助于提高檢測的方向性和定位精度。
特殊設(shè)計(jì)匹配高頻探頭的尖脈沖發(fā)生器,上升時(shí)間<3ns,-110V~-320V可調(diào)。
脈沖重復(fù)頻率可調(diào),*20kHz。
信號帶寬:20KHz~110MHz(-3dB)。
-6dB~+54dB,1dB步進(jìn)的RF可調(diào)增益范圍。
20kHz或20MHz可選高通濾波器。
500MHz采樣率/12bit數(shù)據(jù)采集模塊。
標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口,實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)同步控制及數(shù)據(jù)采集。
提供本公司研發(fā)的30MHz、50MHz等系列高頻探頭。
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