校準(zhǔn)試塊
所有試塊都使用可追溯到美國*標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)研究所（NIST）的測量設(shè)備進(jìn)行尺寸檢查。經(jīng)常求購的校準(zhǔn)試塊列于下表中。
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類型
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工件編號
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說明
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盒子
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ASTM E164校準(zhǔn)
IIW型試塊
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TB7541-X
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符合AASHTO和AWS的1型試塊的要求。校準(zhǔn)距離和靈敏度設(shè)置。測量角度聲束探頭的折射角度和聲束出射點。美制單位（英寸）。
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F129
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TB1136-X
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美制單位（英寸）試塊，帶有機(jī)玻璃塞
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F129
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TB1054-X
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公制單位
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F129
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TB1137-X
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公制單位試塊，帶有機(jī)玻璃塞
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F129
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美國空軍
IIW-2校準(zhǔn)試塊
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TB5939-X
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IIW型試塊，根據(jù)《美國空軍NDI手冊T.O.33B -1-1》。包含用于距離校準(zhǔn)的半徑為2英寸和4英寸的切口。帶有3號、5號和8號橫通孔，以及2英寸孔的距離校準(zhǔn)標(biāo)記。
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F129
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RC AWS試塊
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TB7543-X
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根據(jù)AWS和AASHTO的要求，確定角度聲束探頭的分辨率能力。
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F157
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SC AWS試塊
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TB7545-X
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根據(jù)AWS和AASHTO的要求，進(jìn)行靈敏度和折射角度的校準(zhǔn)。
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F158
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DC AWS試塊
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TB7547-X
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根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進(jìn)行距離和聲束步進(jìn)的校準(zhǔn)。
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F159
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DSC AWS試塊
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TB7549-X
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根據(jù)AWS和AASHTO的要求，為角度聲束探頭進(jìn)行距離、靈敏度、折射角度及聲束步進(jìn)的校準(zhǔn)。
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F160
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DS AWS試塊
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TB7551-X
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根據(jù)AWS和AASHTO的要求，用于水平線性和dB精度程序的校準(zhǔn)試塊。
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F161
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30FBH分辨率參考試塊
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TB7160-X
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評價UT設(shè)備的近表面分辨率和缺陷尺寸/深度的靈敏度。帶有3號、5號和8號ASTM平底孔，位于從0.050英寸到1.250英寸之間的10個金屬行程距離處。
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包含
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NAVSHIPS試塊
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TB7567-X
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帶有6個3號橫通孔。用于根據(jù)NAVSHIPS 0900-006-3010標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行距離波幅校準(zhǔn)。
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F162
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ASTM E164 MAB試塊
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TB7150-X
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微型角度聲束（ROMPAS）試塊。用于距離、聲束步進(jìn)、折射角度及靈敏度的校準(zhǔn)。厚度為1英寸。
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F197
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ISO 7963鋼制
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TB1065-X
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微型角度聲束試塊。用于距離、聲束步進(jìn)、折射角度和靈敏度的校準(zhǔn)。厚度為25毫米。
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F197
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將工件編號中的“X”替換為以下所列試塊材料對應(yīng)的編號：1 = 1018鋼，2 = 4340鋼，4 = 7075-T6鋁，5 = 304不銹鋼，8 = 6-4鈦
